鍍層厚度測量系統(tǒng)必須處于統(tǒng)計控制中，這意味著鍍層厚度測量系統(tǒng)中的變差只能是由于普通原因而不是由于特殊原因造成的。這可稱為統(tǒng)計穩(wěn)定性 。
鍍層厚度測量系統(tǒng)的變差必須比制造過程的變差小 。
變差應(yīng)小于公差帶 。
測量精度應(yīng)高于過程變差和公差帶兩者中精度較高者，一般來說，測量精度是過程變差和公差帶兩者中精度較高者的十分之一 。
鍍層厚度測量系統(tǒng)統(tǒng)計特性可能隨被測項目的改變而變化。若真的如此，則鍍層厚度測量系統(tǒng)的*大的變差應(yīng)小于過程變差和公差帶兩者中的較小者 。
鍍層厚度測量系統(tǒng)的評定
鍍層厚度測量系統(tǒng)的評定通常分為兩個階段，稱為**階段和**階段
**階段：明白該測量過程并確定該鍍層厚度測量系統(tǒng)是否滿足我們的需要。**階段試驗主要有二個目的 ：
確定該鍍層厚度測量系統(tǒng)是否具有所需要的統(tǒng)計特性，此項必須在使用前進(jìn)行 。
發(fā)現(xiàn)哪種環(huán)境因素對鍍層厚度測量系統(tǒng)有顯著的影響，例如溫度、濕度等，以決定其使用之空間及環(huán)境 。
**階段的評定
目的是在驗證一個鍍層厚度測量系統(tǒng)一旦被認(rèn)為是可行的，應(yīng)持續(xù)具有恰當(dāng)?shù)慕y(tǒng)計特性 。
常見的就是“量具R&R”是其中的一種型式 。
量具: 任何用來獲得測量結(jié)果的裝置，包括用來測量合格/不合格的裝置 。
鍍層厚度測量系統(tǒng)：用來獲得表示產(chǎn)品或過程特性的數(shù)值的系統(tǒng)，稱之為鍍層厚度測量系統(tǒng)。鍍層厚度測量系統(tǒng)是與測量結(jié)果有關(guān)的儀器、設(shè)備、軟件、程序、操作人員、環(huán)境的集合。
量具重復(fù)性：指同一個評價人，采用同一種測量儀器，多次測量同一零件的同一特性時獲得的測量值（數(shù)據(jù)）的變差。
量具再現(xiàn)性：指由不同的評價人，采用相同的測量儀器，測量同一零件的同一特性時測量平均值的變差。
穩(wěn)定性：指鍍層厚度測量系統(tǒng)在某持續(xù)時間內(nèi)測量同一基準(zhǔn)或零件的單一特性時獲得的測量值總變差。
偏倚:指同一操作人員使用相同量具，測量同一零件之相同特性多次數(shù)所得平均值與采用更精密儀器測量同一零件之相同特性所得之平均值之差，即測量結(jié)果的觀測平均值與基準(zhǔn)值的差值，也就是我們通常所稱的“準(zhǔn)確度”
